
透反两用正置金相显微镜,用落射 (同轴反射) 和透射照明方式,鉴别和分析各种金属、合成材料和非金属物质的结构,及对集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等一些表面现象,透明、半透明物质的外形轮廓和表面及内在情况等进行研究和分析。
仪器可以选配摄像或数码摄影系统,由计算机对图像进行各种处理、编辑、保存和输出 (如打印等) 或进入多媒统及电子信箱。
系统还可以选配显微图像分析计算机操作系统软件,对显微图像进行金相定量分析或图像形态分析、测量 统计等:
1.金相图像分析系统;
2.显微图像分析系统;
3.显微图像测量系统。
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